Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych- szkolenie online

8.30 – 9.00

Rozpoczęcie (test łączności, kontrola obecności, zasady)

9.00 – 10.00

Sesja 1

Powtórka - zdolność i stabilność systemu pomiarowego dla pomiarów powtarzalnych:

· przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru, stabilność a zdolność systemu pomiarowego (krótkoterminowa – długoterminowa),

· skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem,
błędy I i II rodzaju,

· błąd przypadkowy i systematyczny, wpływ przyrządu i obsługi – analiza przykładu [xlsx].

10.00 - 10.30

Przerwa

10.30 – 12.00

Sesja 2

Powtórka - zdolność i stabilność systemu pomiarowego dla pomiarów powtarzalnych:

· opis zdolności systemów pomiarowych:

· błędy przypadkowe (powtarzalność – EV, odtwarzalność – AV), błąd systematyczny (niepoprawność – „bias”, liniowość), zmienność całkowita (TV), zmienność procesu (PV), rozdzielczość (Re),

· wskaźniki %Re, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,

· procedura typ-1:

· wskaźniki Cg, Cgk, stabilność krótkoterminowa, analiza przypadku [xlsx],

· analiza zdolności (bias, EV) metodą karty kontrolnej, analiza przykładu [xlsx].

12.00 – 12.15

Przerwa krótka

12.15 - 13.00

Sesja 3

Powtórka - zdolność i stabilność systemu pomiarowego dla pomiarów powtarzalnych:

· procedura typ-2:

· jak zauważyć źródła zmienności – analiza przykładu (badanie 3x3x3 [xlsx]),

· analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – formularz, analiza przykładu 3x3x10 [xlsx].

13.00 - 13.45

Przerwa długa

13.45 – 15.00

Sesja 4

Powtórka - zdolność i stabilność systemu pomiarowego dla pomiarów powtarzalnych:

· procedura typ-2:

· analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – wskaźniki, analiza przykładu 3x3x10 [xlsx],

· analiza R&R metodą analizy wariancji (ANOVA) – formularz, wskaźniki, analiza przykładu [raport Minitab],

· analiza R&R metodą rozstępów (RM), analiza przypadku [xlsx],

· analiza R&R typ-3 metodą rozstępów (RM), analiza przykładu [xlsx].

15.00 – 15.15

Przerwa krótka

15.15 – 15.45

Sesja 5

Powtórka - stabilność systemu pomiarowego dla pomiarów powtarzalnych (zastosowanie kart kontrolnych SPC):

· metoda S1 (wg MSA-4) – procedura, formuły, analiza przykładu [xlsx],

· metoda S2 (wg MSA-4) – procedura (sygnalnie).

15.45-16.00

Przerwa krótka opcjonalna

16.00 – 16.30

Podsumowanie, informacja zwrotna od Uczestników.

8.30 – 9.00

Rozpoczęcie (test łączności, kontrola obecności)

9.00 – 10.00

Sesja 6

Badanie systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· mini-powtórka dnia pierwszego,

· problemy z rozdzieleniem źródeł zmienności,

· przygotowanie do badania:

· zdefiniowanie metody pomiaru i wielkości (charakterystyki) mierzonej,

· pozyskanie próbki homogenicznej,

· stabilizacja wielkości (charakterystyki) mierzonej.

10.00 - 10.30

Przerwa

10.30 – 12.00

Sesja 7

Metody badania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· metoda S4 (MSA-4) – zastosowanie, przygotowanie, realizacja, wnioskowanie:

· monitorowanie stabilności systemu pomiarowego – rozwiązanie i analiza przypadku [xlsx].

12.00 – 12.15

Przerwa krótka

12.15 - 13.00

Sesja 8

Metody badania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· metoda S3 (MSA-4) – zastosowanie, przygotowanie, realizacja, wnioskowanie:

· ocena próbki homogenicznej / ocena procesu produkcji – rozwiązanie i analiza przypadku [xlsx, raport Minitab].

13.00 - 13.45

Przerwa długa

13.45 – 15.00

Sesja 9

Metody badania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· metoda S3 (c.d.):

· monitorowanie stabilności systemu pomiarowego – rozwiązanie i analiza przypadku [xlsx].

15.00 – 15.15

Przerwa krótka

15.15 – 15.45

Sesja 10

Metody badania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· metoda S5a (MSA-4) – zastosowanie, przygotowanie, realizacja, wnioskowanie,

· rozwiązanie i analiza przypadku [xlsx],

· metoda S5b (MSA-4) – procedura (sygnalnie).

15.45-16.00

Przerwa krótka opcjonalna

16.00 – 16.30

Zakończenie:

· podsumowanie drugiego dnia,

· informacja zwrotna od Uczestników.

8.30 – 9.00

Rozpoczęcie (test łączności, kontrola obecności)

9.00 – 10.00

Sesja 11

Badanie stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· powtórka dnia drugiego.

10.00 - 10.30

Przerwa

10.30 – 12.00

Sesja 12

Metody badania zdolności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· metoda V3 – zastosowanie, przygotowanie, realizacja, wnioskowanie:

· monitorowanie zdolności systemu pomiarowego – rozwiązanie i analiza przypadku [xlsx],

· zastosowanie metody R&R typ-3 (RM), analiza przypadku [xlsx].

12.00 – 12.15

Przerwa krótka

12.15 - 13.00

Sesja 13

Metody badania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· metoda V4 (ARM) – zastosowanie, przygotowanie, realizacja, wnioskowanie:

· badanie zdolności (3x3x6) – rozwiązanie i analiza przypadku [xlsx].

13.00 - 13.45

Przerwa długa

13.45 – 15.00

Sesja 14

Metody badania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· metoda V4 (ANOVA Nested / ANOVA Crossed) – zastosowanie, przygotowanie, realizacja, wnioskowanie:

· przygotowanie próbek,

· raport wyników (istotność wpływu czynników, interakcja, wskaźniki),

· badanie zdolności ANOVA Crossed (3x3x10) – analiza przykładu [raport Minitab],

· badanie zdolności ANOVA Nested (3x3x5) – analiza przykładu [raport Minitab].

15.00 – 15.15

Przerwa krótka

15.15 – 15.45

Sesja 15

Metody badania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych:

· przypadki specjalne:

· pomiar równoczesny,

· dostępność wzorca.

15.45-16.00

Przerwa krótka opcjonalna

16.00 – 16.30

Zakończenie:

· podsumowanie,

· ciąg dalszy MSA – dyskusja (wdrażanie, planowanie),

· informacja zwrotna od Uczestników.